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合适的仪器并不一定意味着正确的测量结果。
复杂的半导体测量不仅仅取决于仪器规格。连接方式、夹具、接地、屏蔽、测试顺序、器件特性和测量方法都会影响测量结果。
这就是测试工程的重要性所在。
SiC和GaN器件需要能够结合高压、低电流、低电阻、高速度以及精确热控制的测量系统。