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源测量单元

用于 IV 特性分析、漏电流分析和半导体器件测试的精密测试和测量。

源测量单元(images 1)

什么是源测量单元(SMU)?

源测量单元 (SMU) 可精确地发起电压或电流以及同时测量电压和/或电流。它将数字万用表 (DMM)、电源、实际电流源、电子负载和脉冲发生器的有用功能以紧凑外形集成在一台紧密同步的仪器中。由于测量仪器具有多功能性和高精度性能,SMU 比这五种仪器的任意几种仪器组合都有用。

源测量单元(images 2)
  • 纳米结构材料研究
  • 功率半导体GaN,SiC
  • 生物传感器开发
  • 半导体器件设计

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源测量单元(images 3)
  • 激光雷达VCSEL测试
  • 高亮度LED测试
  • 激光二极管生产测试
  • 半导体器件设计

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源测量单元(images 4)
  • 半导体生产测试
  • 晶体管检定
  • IDDQ测试与待机电流测试
  • 多针装置测试

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源测量单元(images 5)
  • 电阻/电阻网络生产测试
  • 连接器、继电器、开关测试
  • 加速压力测试
  • 电路保护装置测试

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源测量单元(images 6)
  • 功率半导体GaN,SiC
  • 太阳能电池板测试
  • 电迁移研究
  • 半导体结温度检定计

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源测量单元(images 7)
  • 双通道、双极输出
  • 内置保护,带输出关闭继电器:
  • 易于拆卸,便于更换和校准
  • 使用数字化仪进行高速测量

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源测量单元(images 8)
  • VCSEL,激光二极管生产测试
  • LED生产测试
  • 晶体管检定

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源测量单元(images 9)
  • 光电子器件研究
  • LIV VCSEL 测试
  • 激光二极管温度控制

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