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通过精确测量了解器件性能
半导体器件研发需要精准可靠的电学表征方法，以深入理解器件性能、失效机制和设计优化方向。
我们结合精密源测量技术、微弱电流测试能力和自动化测试平台，为客户提供从材料研究到器件开发阶段的IV/CV测试解决方案。
主要的挑战：
应对复杂的电学特性
表征挑战
典型的系统配置：
灵活的系统架构
被测试器件➡
探针台/夹具➡
SMU/测量仪器➡
自动化软件➡
数据分析和报告
我们的解决方案：
集成式 I-V/C-V 测量解决方案
我们根据应用需求，通过集成精密仪器、开关系统、测试夹具和自动化软件，设计定制化的测量解决方案。
我们的平台能够以高精度、可重复性和测量效率灵活地表征半导体器件。
典型的系统配置：
灵活的系统架构
精密源测量
源测量单元
微弱信号测试仪器
半导体参数分析
高电压能力
高压放大器
信号发生器
自动化和数据管理
测试序列
数据采集
定制化控制软件
典型的应用：
半导体开发中的应用
用于下一代电力电子器件的SiC和GaN器件特性分析。
MOSFET、二极管和先进功率器件的电学分析。
材料特性和器件结构的表征。
通过电性能测试了解性能退化机制和器件稳定性。
上海爱科集诚科技有限公司
